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WaveMaster®

  • WaveMaster®는 구면과 비구면 광학계의 실시간 파면 수차의 측정과 분석을 할 수 있는 새로운 장비이다. WaveMaster®는 높은 해상력과 정확도를 가지고 있고, 유한 광학계와 무한 광학계의 set-up을 쉽게 할 수 있다. WaveSensor® 시리즈를 통해 서로 다른 측정 매개변수를 위해 최적화 되어있는 다양한 Shack-Hartmann 파면 센서를 이용할 수 있다.
  • 1. WaveMaster®

01
WaveMaster® PRO Wafer, WaveMaster® IOL, WaveMaster® LAB


  • WaveMaster®IOL 은 높은 측정 속도와 정확도를 가지고, monofocal 및 multifocal intraocular 렌즈 (IOL)의 실시간 분석을 제공한다.

WaveMaster® Applications

  •  Wave Front 센서를 사용하여 비구면 렌즈 측정.
  •  실시간 파면 수차의 측정.
  •  투과방식으로 비구면 렌즈 빠르게 측정하기 위한 set-up.
  •  유한광학계, 무한광학계 렌즈를 측정하기 위한 set-up.
  •  사용이 간편하고 전수 검사를 위해 빠른 측정속도를 갖추고 있다.
  •  측정 data는 wave front map, Zernike coefficients, etc 을 포함한다.

WaveMaster® specifications

  WaveMaster® COMPACT WaveMaster® LAB WaveMaster® PRO Wafer WaveMaster® IOL
Illumination 532 nm (further on request)
Numerical Aperture of the Light Source NA 0.28~0.95 NA 0.28

Infinite measurement
in transmission with

a collimated light source
Available

Infinite measurement
in transmission with

a point light source
Available

Finite measurement
in transmission with

a point light source
Available

Measurement
in reflection witha point light source

Option Available
FFL Measurement   Option