sales item

 

Home >연구개발실 >개발장비

PDIC TESTER SYSTEM

  • 본 장치는 PDIC의 전기광학 특성중, 분할 PD의 감도, 주파수 특성, GROUP DELAY, NOISE등을 계측할 수 있도록 개발된 SYSTEM입니다.
  • 3.SJP-V100

01

01

장비의 특징

  •  본 장치는 조사 BEAM은 1-BEAM으로 , 직경 30㎛를 기준으로, GAUSSIAN BEAM분포를 갖고 있습니다. 성능 검사중에 조사 BEAM과 PDIC의 분할 PD를 CCD CAMERA로 MONITORING함으로써, 검사자가 측정하려는 분할 PD와 조사 BEAM을 동시에 관찰할 수 있습니다. 배치는 수직조사형으로, 선택SWITCH에 의해 MANUAL로 조작되며, 조명계는 외장형 조명으로 광섬유 전송계를 사용합니다.
  • 조사 BEAM의 엄격한 규정과 최적 광학계 설계가 요구되어, 조사 BEAM의 선택에 따라 광학계가 재구성되어야 하나, 기본 계측기는 CDP용이나, DVD용에 모두 사용가능한 MODEL로 되어 있습니다.

구성

  • 광학계 및 SAMPLE조정장치 - 광학계,조명계,MONITOR(12"),SAMPLE 조정장치
  •  계측기 및 회로부
      LD DRIVE CONTROLLER,DC MULTI-METER,SPECTRUM ANALYZER, NETWORK ANALYZER, 전원 및 SELECTOR
  •  부속품
     1. 측정용 PCB 및 PD BASE(CDP용)  2. 측정용 PCB 및 PD BASE(DVD용)  3. M/T MOUNT